<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>制服 on Cutting-Edge IR Heating Technology</title>
		<link>http://ir-heater-tech.com/ja/tags/%E5%88%B6%E6%9C%8D/</link>
		<description>Recent content in 制服 on Cutting-Edge IR Heating Technology</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>ja</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Mon, 01 Jun 2026 18:11:53 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heater-tech.com/ja/tags/%E5%88%B6%E6%9C%8D/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>300mmウェーハ赤外線均一加熱</title>
				<link>http://ir-heater-tech.com/ja/posts/uniform-heat-for-300mm-wafer-ir/</link>
				<pubDate>Mon, 01 Jun 2026 18:11:53 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heater-tech.com/ja/posts/uniform-heat-for-300mm-wafer-ir/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heater-tech.com/images/1764273a9805a56244015746cb190d47.png&#34; alt=&#34;300mmウェーハ赤外線均一加熱&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;300mmラインにおいて、フォトレジストのベークは熱予算を確定する工程である。エッジの過熱や冷却、ハードベーク中の温度ドリフトが発生すると、CDの均一性が崩れ、不良が積み上がる一方でスケジューラーは同じロットを繰り返し投入し続ける。そこで、300mmウェハ用IR加熱モジュールを開発し、その変動要因を排除した。&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
